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仪器说明:
YC150基础型平面激光干涉仪，采用了正立式结构设计，通光口径为Φ152.4mm，具备良好的隔振性能，适合高精密平面光学元件及光学系统的测量，仪器还具备电动对焦功能，使检测更加便捷、高效。
主要用途：
平面类可检测元件(包括玻璃、金属、陶瓷等)表面面形、光学平行度测试;以及波前透过面型检测。
仪器规格参数:
