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YC150U干涉仪(6英寸)——工作站

YC150U干涉仪(6英寸)——工作站
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仪器说明:

YC150U激光干涉仪工作站是一款正立式光学测量系统,通光

口径为φ152.4mm,仪器采用高精度的成像系统,具备良好的隔

振性能。适用于偏中大型光学镜片的面型检测及曲率半径测量。
仪器采用了封闭式检测仓设计,从而减少外界因素对检测所带来
的气流影响,同时还设计多维电动调整载物平台,光学零件可以平
放于平台上进行检测,从而减少装夹所带来的应力影响。

主要用途:

测量产品有高精度平面板(玻璃、金属、陶瓷、半导体掩膜基
盘、液晶用玻璃)等表面的平整度和凹凸透镜的球面精度、光圈
数、以及透射波前等。

 

仪器特点:

1.恒温工作仓
2.曲率测量
3.五维调整载物台
4.无应力检测
5.空间小,节约占地面积

 

多区域分次测量:

当被测镜片不能一次性检测到全口径时,可进行多次分
区域测量任务,依据实际状况通过调整镜片俯仰角度来实现
多次测量任务,如下图所示:

 

仪器规格参数:

 

标准镜头: